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场离子显微镜(FIM)是一种具有高分辨高放大倍数且能直接观察到固体表面单个原子的技术,将FIM与飞行时间质谱计配合构成原子探针—......
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用原子探针场离子显微镜（ＡＰ－ＦＩＭ）研究了添加Ｂ对Ｎｉ３Ａｌ有序度的影响以及不同Ｎｉ／Ａｌ比时Ｎｉ３Ａｌ场离子像衬度的变化。无Ｂ的Ｎｉ３Ａｌ样品中晶内出现富Ｎｉ区，且Ｎｉ富集程度的不同而影......
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This paper reports the study of structure of oxide interface in Pt-Rh alloy by atom probe field ion micro-scope （AP-FIM） w......
